Skip to main content
Industrial Quality Solutions
Магазин Метрология България
назад
Industrial Quality Solutions
препоръчани търсения
популярни търсения
ZEISS METROTOM 1500

ZEISS METROTOM 1500

Една КТ система. Много приложения

С ZEISS METROTOM 1500 получавате авангардна КТ технология - надеждно откриване на недостатъци чрез заснемане и измерване на дефекти под повърхността. Какво е различно с този КТ: Той дава бързи изображения с висока резолюция на малки и големи детайли - и всичко между тях.

  • Високоскоростно сканиране
  • Детайлно качество на томографското изображение
  • Метрологична точност (VDI/VDE 2630 1.3)
  • Опция за сертифициране от DAkkS
  • Компактен дизайн
ZEISS METROTOM 1500
Контакт

Ползи

По-добро качество на изображението
По-добро качество на изображението

По-добро качество на изображението

Висока резолюция и проследима точност

ZEISS METROTOM 1500 притежава изключително качество на образа, което ясно отразява дори малки дефекти. Софтуерът AMMAR, BHC и хардуерният модул ZEISS scatterControl осигуряват ненадминато качество. КТ е допълнително специфицирана съгласно ръководството VDI/VDE 2630 за проследима точност.

Благодарение на високото ниво на експертиза в метрологията на ZEISS, което също е използвано в томографската технология, може да разчитате на висока точност на измерване. MPE(SD) от 4.5 + L/50 μm по VDI/VDE 2630 Спец. 1.3 е гарантирано в цялото видимо поле - за надеждни резултати от измерването.

Универсалност на системата

Универсалност на системата

Подходяща за множество различни детайли и приложения

ZEISS METROTOM 1500 сканира малки детайли с много висока резолюция и такива с диаметър до 615 mm и височина 800 mm като пълна реконструкция. Това се постига с хоризонтално и вертикално разширяване на видимото поле. Благодарение на гъвкавата тръба с фокусна точка от само няколко микрометра, от една страна и максимална мощност от 500 W от друга, малките детайли могат да бъдат сканирани с много висока резолюция, а големите за кратко време. Това прави системата идеална за много приложения.

DAkkS калибриране Вашият портал към надеждни измервания

DAkkS калибриране

Вашият портал към надеждни измервания

Строгите стандарти за качество в автомобилната, медицинската или фармацевтичната индустрии често изискват прилагане на акредитирани процедури за КТ инспекция. Те гарантират обективно, съответстващо на стандарта измерване на детайли съобразно VDI/VDE 2630 Част 1.3. DAkkS калибриране се предлага и за серията индустриални томографи ZEISS METROTOM 1500 Полза от добавената стойност: съкращаване на разходите и повишаване на доверието на вашите клиенти.

Смарт дизайн за ограничено пространство

Смарт дизайн за ограничено пространство

Най-ефективно използване на пространството

Сравнително компактният размер и умната конструкция на вратата с двойно предназначение - сервиз и зареждане на детайли, позволяват гъвкава инсталация на КТ във вашата измервателна лаборатория – дори при ограничено пространство. За да ви помогнем да се възползвате максимално от наличното пространство, разширихме допълнително измервателния обем: Измерва и инспектира детайли с височина от 870 mm на площ от 3.7 x 1.8 метра - най-добро съотношение система/обем на измервания детайл на пазара.

Инспектира цели компоненти

Инспектира цели компоненти

Идеален за детайли, съставени от много материали

С традиционна измервателна технология скритите структури могат да бъдат инспектирани само след продължителен и скъп процес на разрушаване на компонента – слой по слой. ZEISS METROTOM 1500,обаче, е индустриална компютърна томографска система за измерване и инспектиране на цели компоненти от пластмаса и/или лек метал или дори мед и стомана. ​

ZEISS scatterControl​
ZEISS METROTOM scatterControl

ZEISS scatterControl​

Изключително качество на томографското изображение

Хардуерното решение ZEISS scatterControl значително подобрява качеството на изображенията на ZEISS METROTOM 1500 чрез намаляване на артефактите при КТ сканиране до минимум. Това улеснява следващите стъпки на обработка и оценка на данни, водещи до по-точно определяне на повърхността и анализ на дефектите. ​

Намерете повече информация

 Открийте още ползи от ZEISS METROTOM 1500​.

Иновативен контрол на качеството

Иновативен контрол на качеството 
Измерва и инспектира големи детайли

Третото поколение ZEISS METROTOM 1500 дава възможност за измерване на по-големи детайли в една реконструкция благодарение на разширен измервателен обем: С новоразработената система за позициониране, детайли с височина до 870 mm се побират в КТ без необходимост от ре-позициониране.
Изтеглете продуктовата брошура на ZEISS METROTOM 1500
Компактна площ

За транспорт, монтаж, поддръжка или необходимо място в лабораторията на клиента -колкото по-малка система, толкова по-добре. Дизайнът на кабината на най-голямата индустриална КТ система на ZEISS е изцяло посветен на ефективното използване на пространството, довел до площ от само 6,7 m2.
По-удобна работа

Предната врата позволява на оператора да влезе в системата и да я използва като точка на достъп за сервиз, което прави зареждането на големи и тежки компоненти по-удобно. Така потребителят може лесно, безопасно и точно да извършва КТ измервания. Тъй като ZEISS METROTOM 1500 не изисква голямо допълнително пространство отгоре, отзад или отстрани, системата позволява гъвкавост при инсталиране.

Приложения

  • Индустрия

    Индустрия

    Подходяща за детайли от леки метали, композити, детайли, съставени от много материали, пластмаса и добавки.

  • Турбини в авиационно-космическата индустрия

    Авиационно-космическа

    Много подходяща за надеждно сканиране на титаниеви, стоманени или композитни лопатки в съответствие с индустриалните стандарти и изискванията за безопасност.

  • Медицина

    Медицина

    Прецизно сканиране на медицински детайли като инжектори, импланти, инхалатори или пейсмейкъри.​

  • Дънни платки

    Електроника

    Безопасно сканиране на конектори, батерии, печатни платки и други електрически компоненти.​

  • ZEISS INSPECT X-Ray (Рентгенов) Всеобхватен анализ на КТ данни в 3D

    ZEISS INSPECT X-Ray

    Всеобхватен анализ на КТ данни в 3D

    Лесният за ползване аналитичен софтуер ZEISS INSPECT X-Ray дава възможност за пълен анализ на КТ данни в 3D - автоматичен или персонализиран работен процес, подходящ дори за начинаещи. Геометрии, дупки от свиване или вътрешни структури и сглобки могат да бъдат анализирани прецизно. Дори малки дефекти стават видими чрез индивидуални образи на различни сечения. Можете също да зареждате обемни данни на няколко компонента в един проект, да анализирате тенденции и да сравнявате резултатите с CAD данни - само в един софтуер.

  • ZEISS Автоматично откриване на дефекти (ZADD)

    ZEISS Автоматично откриване на дефекти (ZADD)

    Изкуствен интелект в компютърната томография

    Разширението ZADD в ZEISS INSPECT X-Ray открива дори малки и неясни дефекти надеждно, бързо и автоматично. ZADD открива, локализира и класифицира тези дефекти или аномалии и едновременно ги анализира детайлно чрез разчитане на КТ сканирането. Софтуерното разширение е специално разработено за приложения като отливки, шприцовани части и принтирани компоненти.

  • ZEISS PiWeb Трансформира данните за качество в смислени резултати

    ZEISS PiWeb

    Трансформира данните за качество в смислени резултати

    Софтуерът за отчитане на резултати и управление на данни за качество ZEISS PiWeb помага за свърване на метрологичните резултати от различни измервателни технологии с решения в производството - за ефективно проследяване на качеството на вашата продукция и незабавни резултати. Използвайте ZEISS PiWeb за GR&R изследвания, управление на данни за контрол на качество, работа с данни от ръчни измервателно инструменти, създаване на солидна статистика и се възползвайте от различни готови стандартни образци за отчет.

Характеристики на ZEISS METROTOM OS

Софтуерни решения за ефективно КТ сканиране 
  • Авангардна редукция на артефакти при смесени материали (AMMAR)​

    Авангардна редукция на артефакти при смесени материали (AMMAR)​

    Виждате повече детайли във вашите детайли при прехода от метал към пластмаса: Коригиращият процес AMMAR значително редуцира артефактите, възникващи при сканиране на детайли с различни материали и дебелина, особено при детайли подобни на конектори сглобки от метал и пластмаса. ​

  • Разширение Виртуален хоризонтален детектор (VHD)​

    Разширение Виртуален хоризонтален детектор (VHD)​

    Измерва детайли по-широки от детектора VHD увеличава възможния обемен диаметър на вашите изображения с до 80% Позволява сканиране на детайли значително по-широки от детектора или на малки детайли с по-малки воксели и следователно по-висока резолюция.

  • VolumeMerge​

    VolumeMerge​ (обемно сливане)

    Изключителната система за прецизно позициониране, за която използвахме нашите познания от света на тактилното измерване, е увеличила размера на компонентите за реконструкция в системата до височина от 870 mm. Това означава, че големи компоненти могат да се изобразят изцяло в един единствен автоматичен процес, елиминирайки необходимостта за ре-позициониране и центриране от потребителя.

  • ShortScan​

    ShortScan​

    ShortScan е режим на сканиране, при който даден детайлтрябва да извърши само малко повече от половин ротация вместо пълна ротация. Това ви дава възможност да сканирате специфични области в детайлите с по-висока резолюция отколкото иначе би било възможно с пълна ротация поради геометричните ограничения.

  • Разделяне

    Разделяне

    Автоматичното разделяне повишава производителността чрез сканиране на няколко компонента наведнъж и автоматичното им анализиране поотделно, което значително намалява времето за сканиране и нуждата от намесата на оператор.

Фамилията ZEISS METROTOM 1500

За изтегляне

Свържете се с нас

Искате ли да разгледате по-подробно нашите продукти или услуги? С удоволствие ще ви предоставим повече информация или ще ви покажем на живо как работят, дистанционно или на място.

ZEISS Metrology Shop

Лесно поръчайте сонди, аксесоари за измерване и други

ZEISS Metrology Portal

Получете достъп до пълната гама от системи и софтуерни услуги

ZEISS Academy Metrology

Вашето персонализирано обучение по метрология, достъпно в различни формати

Имате ли нужда от повече информация?

Свържете се с нас. Нашите експерти ще се свържат с вас.

Формулярът се зарежда...

/ 4
Следваща стъпка:
  • Запитване за лихви
  • Лични данни
  • Данни за компанията

Ако желаете повече информация относно обработката на лични дании от ZEISS, моля, разгледайте нашата Декларация за поверителност на данните.

Свързани продукти