Техническата чистота е част от софтуерното портфолио на ZEN core в индустриалната микроскопия. За да оптимизира класификацията на частиците, ZEISS сега предлага на потребителите на ZEISS ZEN core решението за анализ на техническата чистота („TCA“) с три предварително обучени модула, базирани на машинно обучение. Този модул предлага функционалност за класифициране на частици въз основа на измерени параметри на анализирано изображение. Пробите се анализират чрез три предварително обучени модела за машинно обучение, които могат да бъдат допълнително обучени от потребители и клиенти. Пробите се анализират чрез определяне на сивата скала и предварително обученият модел на машинно обучение за класифициране на обекти работи във фонов режим в новите шаблони за работа на TCA, докато класификацията на типа се проверява паралелно въз основа на съществуващите резултати от измерване на частици. Тази допълнителна проверка на класификацията на типа чрез алгоритми за машинно обучение „разглежда” резултатите от частиците, получени с класическия анализ за размер, форма, интензитет и класификация на типа, наред с други, и комбинира различните характеристики в голям брой некорелирани дървета на решения. Резултатите се оценяват индивидуално за всяко дърво на решенията, като се използва класификацията, обучена по модела за класификация на обекти. Резултатът е автоматично предвиждане на типа частица.

Систематизиране на частиците по количество, размер и морфология и разграничаване на метални от неметални частици и влакна до 2 μm. Изготвяне на отчети за чистота в съответствие с индустриалните стандарти.

Характеризиране на критичните за процеса частици и идентифициране на критичните частици с помощта на корелативна микроскопия, която комбинира вашите данни както от светлинни, така и от електронни микроскопи в един работен процес.

Измерване на морфологичните свойства на частиците и използване на напълно автоматизиран елементен анализ за класифициране на частиците по химичен състав. ZEISS SmartPI, софтуерът за анализ на частици за електронни микроскопи, автоматизира откриването, анализа и класифицирането на частици, комбинирайки микроскопски контрол, обработка на изображения и елементен анализ в едно приложение.